本文主要介 紹離子化檢測(cè)方法的原理 、發(fā)展過(guò)程、裝備情況和未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì) 。

|人防毒劑監(jiān)測(cè)儀TD-YQ001 

1．2離子化檢測(cè)儀器的發(fā)展 在物理方法中，電子俘獲法 、離子復(fù)合法、動(dòng)態(tài) 柵法 、離子遷移譜法 的檢測(cè)原理都是首先將空氣 中的 毒劑分子電離成為帶電離子，然后對(duì)離子進(jìn)行檢測(cè)的 方法 ，所 以上述方法可以統(tǒng)稱(chēng)為離子化檢測(cè)法。 基于離子化檢測(cè)法 的儀器，工作流程為： 樣 品氣體離子化過(guò)程一離子選擇分離過(guò)程一離 子接收放大過(guò)程一信號(hào)處理過(guò)程。 離子化檢測(cè)法的發(fā)展主要體現(xiàn)在離子選擇分離 和信號(hào)處理兩個(gè)方面 。在離子選擇分離發(fā)展過(guò)程中經(jīng) 過(guò)了簡(jiǎn)單的電離檢測(cè)法 (電子俘獲法)一單級(jí)離子過(guò) 濾器 (離子復(fù)合法 、動(dòng)態(tài)柵法)一多級(jí)離子過(guò)濾器 (吸 入式離子遷移譜法)到閉合型 IMS離子遷移譜法的四 個(gè)發(fā)展階段 。在信號(hào)處理過(guò)程中經(jīng)歷 了分離元件一集 成 電路一微型計(jì)算機(jī)處理器的發(fā)展階段 ，其中微型計(jì) 算機(jī)處理器在離 子化檢測(cè)法儀器上的應(yīng)用對(duì)毒劑檢 測(cè)產(chǎn)生 了革命性 的影響。 

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1．3毒劑分子的離子化反應(yīng)過(guò)程 毒劑分子 的離子化方法 比較 常見(jiàn)的有 電暈放 電 法 、光電離法 、放射源法 、激光 電離法等，以下為常 見(jiàn)的放射源法電離過(guò)程。 樣 品氣體 中的毒劑分子置于有 ?；?放射源 的 電離室 ，載氣分子中的 N2、0。和 H20在放射源 的作用 下被電離成反應(yīng)離子簇。使用 ∞Ni放射源 的電離反應(yīng) 式 為 ： Ⅳ2+ H2D— (H2D)H +(日2D)N (1) Ⅳ2+ H2D+()2— (日2D)H +(／42D)NO +(H2D)D一2+(日2D)一 +P一 (2) 在 電離室中，反應(yīng)離子簇與毒劑分子發(fā)生分子一 離子反應(yīng) ，形成產(chǎn)物離子簇 。因?yàn)槎緞┓肿邮谴蟮臉O 性分子，有很低 的電離能及較高的電子親和力，所以 在待檢氣體中即使有少量的毒劑分子存在 ，也能優(yōu)先 與極性分子反應(yīng) 。 設(shè)毒劑分子為 M，則： M +(／42D)H M (H2D)H (3) +(H2D)NO M (H2D)NO (4) M +(H2D)D一2 M (H2D)0—2 (5) M +(H2D)一 M (H2D)一 (6) +e一--->M 一 (7) 在離子化檢測(cè)原理的儀器 中，離子化反應(yīng)完成 后，進(jìn)行進(jìn)一步的處理。